簡(jiǎn)要描述:礦產(chǎn)光譜分析儀 地質(zhì)勘探光譜儀應(yīng)用于地質(zhì)勘探、礦山測(cè)繪、開(kāi)采、礦石分選、礦石品位鑒定、金屬冶煉以及環(huán)境監(jiān)控等領(lǐng)域。
產(chǎn)品分類(lèi)
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測(cè)量時(shí)間 | 2s | 電源電壓 | 220V |
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產(chǎn)地 | 進(jìn)口 | 加工定制 | 否 |
礦產(chǎn)光譜分析儀 地質(zhì)勘探光譜儀,用于現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行無(wú)損,快速,準(zhǔn)確的檢測(cè)礦石元素種類(lèi)及其含量。
奧林巴斯的便攜式X射線熒光分析儀具有很高的分析性能,可以實(shí)時(shí)提供地球化學(xué)數(shù)據(jù),從而有助于快速確定土壤、巖石 和礦石的多元素特征。當(dāng)前在便攜式XRF技術(shù)上的重大進(jìn)展,大幅降低了檢測(cè)時(shí)間,優(yōu)化了檢出限,并增加了可測(cè)元素 的數(shù)量。如今地質(zhì)工作者通常會(huì)使用來(lái)自Vanta分析儀的巖石地球化學(xué)信息識(shí)別巖石的類(lèi)型。Vanta分析儀還可以參與完 成一些標(biāo)準(zhǔn)的地質(zhì)測(cè)井工作(如:分析土壤、鉆屑和巖芯),因?yàn)閂anta分析儀可以在采樣地點(diǎn)即時(shí)提供客觀的化學(xué)成分 數(shù)據(jù)。在進(jìn)行常規(guī)視覺(jué)測(cè)井的同時(shí)甚至之前,可以使用這些數(shù)據(jù)對(duì)巖石進(jìn)行分類(lèi),并解讀巖石蝕變和礦化的原因。
Vanta便攜式分析儀所獲得的數(shù)據(jù)有助于辨別巖石的類(lèi)型并完成蝕變測(cè)井。
礦產(chǎn)光譜分析儀 地質(zhì)勘探光譜儀
在地質(zhì)測(cè)井工作中,地球科學(xué)家通過(guò)肉眼觀察,將包含土壤、鉆屑、石塊和鉆芯在內(nèi)的不同樣本的巖石類(lèi)型、蝕變情況、結(jié)構(gòu)、構(gòu)造及其它特征記錄下來(lái)。地球科學(xué)家一般使用測(cè)井圖表(地質(zhì)編錄)將所觀察到的特征或順磁特性記錄下來(lái),其中包括:顏色、粒徑大小、結(jié)構(gòu)、構(gòu)造走向、層理、蝕變、質(zhì)變和橫切。
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